Технічний опис SN74LVTH18502APMG4 Texas Instruments
Description: IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP, Packaging: Tray, Package / Case: 64-LQFP, Mounting Type: Surface Mount, Logic Type: ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers, Operating Temperature: -40°C ~ 85°C, Supplier Device Package: 64-LQFP (10x10).
Інші пропозиції SN74LVTH18502APMG4
| Фото | Назва | Виробник | Інформація |
Доступність |
Ціна без ПДВ |
|---|---|---|---|---|---|
 |
SN74LVTH18502APMG4 | Виробник : Texas Instruments |
 Description: IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFPPackaging: Tray Package / Case: 64-LQFP Mounting Type: Surface Mount Logic Type: ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers Operating Temperature: -40°C ~ 85°C Supplier Device Package: 64-LQFP (10x10) |
товару немає в наявності |