на замовлення 2720 шт:
термін постачання 21-31 дні (днів)
| Кількість | Ціна без ПДВ |
|---|---|
| 160+ | 811.9 грн |
Відгуки про товар
Написати відгук
Технічний опис SN74LVTH182646APM Texas Instruments
Scan Test Device -40°C to 85°C 64-Pin LQFP Tray.
Інші пропозиції SN74LVTH182646APM за ціною від 877.46 грн до 1032.82 грн
| Фото | Назва | Виробник | Інформація |
Доступність |
Ціна без ПДВ | ||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
 |
SN74LVTH182646APM | Виробник : Texas Instruments |
 Scan Test Device -40°C to 85°C 64-Pin LQFP Tray |
на замовлення 160 шт: термін постачання 21-31 дні (днів) |
|
||||||||
|
|
SN74LVTH182646APM | Виробник : Texas Instruments |
Scan Test Device -40°C to 85°C 64-Pin LQFP Tray |
на замовлення 160 шт: термін постачання 21-31 дні (днів) |
|
||||||||
 |
SN74LVTH182646APM | Виробник : Texas Instruments |
Description: IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP |
на замовлення 12206 шт: термін постачання 21-31 дні (днів) |
|
||||||||
|
|
SN74LVTH182646APM | Виробник : Texas Instruments |
Scan Test Device -40°C to 85°C 64-Pin LQFP Tray |
на замовлення 3040 шт: термін постачання 21-31 дні (днів) |
|
||||||||
|
|
SN74LVTH182646APM | Виробник : Texas Instruments |
Scan Test Device -40°C to 85°C 64-Pin LQFP Tray |
товар відсутній |
|||||||||
|
|
SN74LVTH182646APM | Виробник : Texas Instruments |
Scan Test Device -40°C to 85°C 64-Pin LQFP Tray |
товар відсутній |
|||||||||
|
|
SN74LVTH182646APM | Виробник : Texas Instruments |
Description: IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP |
товар відсутній |
|||||||||
 |
SN74LVTH182646APM | Виробник : Texas Instruments |
Specialty Function Logic 18bit ABT 3.3V |
товар відсутній |