SN74LVTH182512DGGR Texas Instruments
Виробник: Texas InstrumentsDescription: IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-TSSOP
Packaging: Cut Tape (CT)
Package / Case: 64-TFSOP (0.240", 6.10mm Width)
Mounting Type: Surface Mount
Number of Bits: 18
Logic Type: ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers
Operating Temperature: -40°C ~ 85°C
Supply Voltage: 2.7V ~ 3.6V
Supplier Device Package: 64-TSSOP
на замовлення 1536 шт:
термін постачання 21-31 дні (днів)
| Кількість | Ціна без ПДВ |
|---|---|
| 1+ | 604.64 грн |
| 10+ | 525.98 грн |
| 25+ | 501.54 грн |
| 100+ | 408.68 грн |
| 250+ | 390.32 грн |
| 500+ | 355.88 грн |
| 1000+ | 304.88 грн |
Відгуки про товар
Написати відгук
Технічний опис SN74LVTH182512DGGR Texas Instruments
Description: IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-TSSOP, Packaging: Tape & Reel (TR), Package / Case: 64-TFSOP (0.240", 6.10mm Width), Mounting Type: Surface Mount, Number of Bits: 18, Logic Type: ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers, Operating Temperature: -40°C ~ 85°C, Supply Voltage: 2.7V ~ 3.6V, Supplier Device Package: 64-TSSOP.
Інші пропозиції SN74LVTH182512DGGR
| Фото | Назва | Виробник | Інформація |
Доступність |
Ціна без ПДВ |
|---|---|---|---|---|---|
| SN74LVTH182512DGGR |
|
на замовлення 1997 шт: термін постачання 14-28 дні (днів) |
|||
 |
SN74LVTH182512DGGR | Виробник : Texas Instruments |
Scan Test Device |
товар відсутній |
|
| SN74LVTH182512DGGR | Виробник : Texas Instruments |
Description: IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-TSSOP Packaging: Tape & Reel (TR) Package / Case: 64-TFSOP (0.240", 6.10mm Width) Mounting Type: Surface Mount Number of Bits: 18 Logic Type: ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers Operating Temperature: -40°C ~ 85°C Supply Voltage: 2.7V ~ 3.6V Supplier Device Package: 64-TSSOP |
товар відсутній |
||
 |
SN74LVTH182512DGGR | Виробник : Texas Instruments |
Specialty Function Logic 3.3-V ABT w/18-Bit Univ Bus Transceiver |
товар відсутній |