SN74LVTH182502APM Texas Instruments
Виробник: Texas InstrumentsDescription: IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP
Packaging: Bulk
Package / Case: 64-LQFP
Mounting Type: Surface Mount
Number of Bits: 18
Logic Type: ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers
Operating Temperature: -40°C ~ 85°C
Supply Voltage: 2.7V ~ 3.6V
Supplier Device Package: 64-LQFP (10x10)
на замовлення 21724 шт:
термін постачання 21-31 дні (днів)
| Кількість | Ціна без ПДВ |
|---|---|
| 46+ | 459.85 грн |
Відгуки про товар
Написати відгук
Технічний опис SN74LVTH182502APM Texas Instruments
Description: IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP, Packaging: Bulk, Package / Case: 64-LQFP, Mounting Type: Surface Mount, Number of Bits: 18, Logic Type: ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers, Operating Temperature: -40°C ~ 85°C, Supply Voltage: 2.7V ~ 3.6V, Supplier Device Package: 64-LQFP (10x10).
Інші пропозиції SN74LVTH182502APM за ціною від 487.08 грн до 831.48 грн
| Фото | Назва | Виробник | Інформація |
Доступність |
Ціна без ПДВ | ||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
 |
SN74LVTH182502APM | Виробник : Texas Instruments |
Specialty Function Logic 10-Bit Buffer/Driver With 3-State Output |
на замовлення 120 шт: термін постачання 21-30 дні (днів) |
|
||||||||||
 |
SN74LVTH182502APM | Виробник : Texas Instruments |
Scan Test Device |
товар відсутній |
|||||||||||
|
|
SN74LVTH182502APM | Виробник : Texas Instruments |
Description: IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP Packaging: Tray Package / Case: 64-LQFP Mounting Type: Surface Mount Number of Bits: 18 Logic Type: ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers Operating Temperature: -40°C ~ 85°C Supply Voltage: 2.7V ~ 3.6V Supplier Device Package: 64-LQFP (10x10) |
товар відсутній |