на замовлення 325 шт:
термін постачання 21-31 дні (днів)
| Кількість | Ціна без ПДВ |
|---|---|
| 25+ | 548.29 грн |
Відгуки про товар
Написати відгук
Технічний опис SN74BCT8244ADW Texas Instruments
Description: TEXAS INSTRUMENTS - SN74BCT8244ADW - Scan-Test-Baustein mit achtfachen Puffern, 4.5V bis 5.5V, SOIC-24, tariffCode: 85423990, rohsCompliant: YES, Bauform - Logikbaustein: SOIC, hazardous: false, rohsPhthalatesCompliant: YES, MSL: MSL 1 - unbegrenzt, usEccn: EAR99, Betriebstemperatur, min.: 0°C, Versorgungsspannung, min.: 4.5V, Logiktyp: Scantestbaustein, euEccn: NLR, Anzahl der Pins: 24Pin(s), Produktpalette: -, productTraceability: Yes-Date/Lot Code, Versorgungsspannung, max.: 5.5V, Betriebstemperatur, max.: 70°C, SVHC: No SVHC (17-Jan-2023).
Інші пропозиції SN74BCT8244ADW за ціною від 508.9 грн до 994.95 грн
| Фото | Назва | Виробник | Інформація |
Доступність |
Ціна без ПДВ | ||||||||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
 |
SN74BCT8244ADW | Виробник : Texas Instruments |
 Specialty Function Logic Device w/Octal Buffers |
на замовлення 23 шт: термін постачання 21-30 дні (днів) |
|
||||||||||||||||
 |
SN74BCT8244ADW | Виробник : TEXAS INSTRUMENTS |
Description: TEXAS INSTRUMENTS - SN74BCT8244ADW - Scan-Test-Baustein mit achtfachen Puffern, 4.5V bis 5.5V, SOIC-24 tariffCode: 85423990 rohsCompliant: YES Bauform - Logikbaustein: SOIC hazardous: false rohsPhthalatesCompliant: YES MSL: MSL 1 - unbegrenzt usEccn: EAR99 Betriebstemperatur, min.: 0°C Versorgungsspannung, min.: 4.5V Logiktyp: Scantestbaustein euEccn: NLR Anzahl der Pins: 24Pin(s) Produktpalette: - productTraceability: Yes-Date/Lot Code Versorgungsspannung, max.: 5.5V Betriebstemperatur, max.: 70°C SVHC: No SVHC (17-Jan-2023) |
на замовлення 5 шт: термін постачання 21-31 дні (днів) |
|
||||||||||||||||
 |
SN74BCT8244ADW | Виробник : Texas Instruments |
Description: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC |
на замовлення 1200 шт: термін постачання 21-31 дні (днів) |
|
||||||||||||||||
| SN74BCT8244ADW |
|
на замовлення 1852 шт: термін постачання 14-28 дні (днів) |
|||||||||||||||||||
 |
SN74BCT8244ADW | Виробник : Texas Instruments |
Scan Test Device 0°C to 70°C 24-Pin SOIC Tube |
товар відсутній |
|||||||||||||||||
|
|
SN74BCT8244ADW | Виробник : Texas Instruments |
Scan Test Device 0°C to 70°C 24-Pin SOIC Tube |
товар відсутній |