SN74ABT8245DWR Texas Instruments
Виробник: Texas InstrumentsDescription: IC SCAN TEST DEV W/OBT 24-SOIC
Packaging: Bulk
Package / Case: 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
Mounting Type: Surface Mount
Number of Bits: 8
Logic Type: Scan Test Device with Bus Transceivers
Operating Temperature: -40°C ~ 85°C
Supply Voltage: 4.5V ~ 5.5V
Supplier Device Package: 24-SOIC
на замовлення 1850 шт:
термін постачання 21-31 дні (днів)
| Кількість | Ціна без ПДВ |
|---|---|
| 74+ | 284.72 грн |
Відгуки про товар
Написати відгук
Технічний опис SN74ABT8245DWR Texas Instruments
Description: IC SCAN TEST DEV W/OBT 24-SOIC, Packaging: Tape & Reel (TR), Package / Case: 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width), Mounting Type: Surface Mount, Number of Bits: 8, Logic Type: Scan Test Device with Bus Transceivers, Operating Temperature: -40°C ~ 85°C, Supply Voltage: 4.5V ~ 5.5V, Supplier Device Package: 24-SOIC.
Інші пропозиції SN74ABT8245DWR
| Фото | Назва | Виробник | Інформація |
Доступність |
Ціна без ПДВ |
|---|---|---|---|---|---|
| SN74ABT8245DWR |
|
на замовлення 928 шт: термін постачання 14-28 дні (днів) |
|||
 |
SN74ABT8245DWR | Виробник : Texas Instruments |
Scan Test Device -40C to 85C 24-Pin SOIC T/R |
товар відсутній |
|
|
|
SN74ABT8245DWR | Виробник : Texas Instruments |
Description: IC SCAN TEST DEV W/OBT 24-SOIC Packaging: Cut Tape (CT) Package / Case: 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width) Mounting Type: Surface Mount Number of Bits: 8 Logic Type: Scan Test Device with Bus Transceivers Operating Temperature: -40°C ~ 85°C Supply Voltage: 4.5V ~ 5.5V Supplier Device Package: 24-SOIC |
товар відсутній |
|
|
|
SN74ABT8245DWR | Виробник : Texas Instruments |
Description: IC SCAN TEST DEV W/OBT 24-SOIC Packaging: Tape & Reel (TR) Package / Case: 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width) Mounting Type: Surface Mount Number of Bits: 8 Logic Type: Scan Test Device with Bus Transceivers Operating Temperature: -40°C ~ 85°C Supply Voltage: 4.5V ~ 5.5V Supplier Device Package: 24-SOIC |
товар відсутній |
|
 |
SN74ABT8245DWR | Виробник : Texas Instruments |
Specialty Function Logic Scan Test Device |
товар відсутній |