SN74ABT8245DW Texas Instruments
на замовлення 37 шт:
термін постачання 21-31 дні (днів)
| Кількість | Ціна без ПДВ |
|---|---|
| 2+ | 312.75 грн |
Відгуки про товар
Написати відгук
Технічний опис SN74ABT8245DW Texas Instruments
Scan Test Device -40°C to 85°C 24-Pin SOIC Tube.
Інші пропозиції SN74ABT8245DW за ціною від 297.58 грн до 656.62 грн
| Фото | Назва | Виробник | Інформація |
Доступність |
Ціна без ПДВ | ||||||||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
|
SN74ABT8245DW | Виробник : Texas Instruments |
Scan Test Device -40°C to 85°C 24-Pin SOIC Tube |
на замовлення 150 шт: термін постачання 21-31 дні (днів) |
|
||||||||||||||||
 |
SN74ABT8245DW | Виробник : Texas Instruments |
Scan Test Device -40C to 85C 24-Pin SOIC Tube |
на замовлення 650 шт: термін постачання 21-31 дні (днів) |
|
||||||||||||||||
|
|
SN74ABT8245DW | Виробник : Texas Instruments |
Scan Test Device -40°C to 85°C 24-Pin SOIC Tube |
на замовлення 650 шт: термін постачання 21-31 дні (днів) |
|
||||||||||||||||
|
|
SN74ABT8245DW | Виробник : Texas Instruments |
Scan Test Device -40°C to 85°C 24-Pin SOIC Tube |
на замовлення 37 шт: термін постачання 21-31 дні (днів) |
|
||||||||||||||||
 |
SN74ABT8245DW | Виробник : Burr Brown |
Description: SN74ABT8245 SCAN TEST DEVICES WI |
на замовлення 146 шт: термін постачання 21-31 дні (днів) |
|
||||||||||||||||
|
|
SN74ABT8245DW | Виробник : Texas Instruments |
Scan Test Device -40°C to 85°C 24-Pin SOIC Tube |
на замовлення 75 шт: термін постачання 21-31 дні (днів) |
|
||||||||||||||||
 |
SN74ABT8245DW | Виробник : Texas Instruments |
Specialty Function Logic Scan Test Device |
на замовлення 75 шт: термін постачання 21-30 дні (днів) |
|
||||||||||||||||
 |
SN74ABT8245DW | Виробник : Texas Instruments |
Description: IC SCAN TEST DEV/TXRX 24-SOIC |
на замовлення 3190 шт: термін постачання 21-31 дні (днів) |
|
||||||||||||||||
|
|
SN74ABT8245DW | Виробник : Texas Instruments |
Scan Test Device -40°C to 85°C 24-Pin SOIC Tube |
товар відсутній |
|||||||||||||||||
|
|
SN74ABT8245DW | Виробник : Texas Instruments |
Scan Test Device -40°C to 85°C 24-Pin SOIC Tube |
товар відсутній |
|||||||||||||||||
| SN74ABT8245DW | Виробник : TEXAS INSTRUMENTS |
SN74ABT8245DW Other logic integrated circuits |
товар відсутній |