C4532JB1E226M250KA TDK
на замовлення 26791 шт:
термін постачання 21-30 дні (днів)
| Кількість | Ціна без ПДВ |
|---|---|
| 4+ | 87.74 грн |
| 10+ | 60.46 грн |
| 100+ | 42.24 грн |
| 500+ | 34.3 грн |
| 1000+ | 30.29 грн |
| 2500+ | 28.25 грн |
| 10000+ | 25.51 грн |
Відгуки про товар
Написати відгук
Технічний опис C4532JB1E226M250KA TDK
Description: CAP CER 22UF 25V JB 1812, Tolerance: ±20%, Features: Low ESL, Packaging: Tape & Reel (TR), Voltage - Rated: 25V, Package / Case: 1812 (4532 Metric), Temperature Coefficient: JB, Size / Dimension: 0.177" L x 0.126" W (4.50mm x 3.20mm), Mounting Type: Surface Mount, MLCC, Operating Temperature: -25°C ~ 85°C, Applications: General Purpose, Thickness (Max): 0.110" (2.80mm), Part Status: Last Time Buy, Capacitance: 22 µF.
Інші пропозиції C4532JB1E226M250KA за ціною від 29.25 грн до 36.88 грн
| Фото | Назва | Виробник | Інформація |
Доступність |
Ціна без ПДВ | ||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| C4532JB1E226M250KA | Виробник : TDK Corporation |
 Description: CAP CER 22UF 25V JB 1812Tolerance: ±20% Features: Low ESL Packaging: Tape & Reel (TR) Voltage - Rated: 25V Package / Case: 1812 (4532 Metric) Temperature Coefficient: JB Size / Dimension: 0.177" L x 0.126" W (4.50mm x 3.20mm) Mounting Type: Surface Mount, MLCC Operating Temperature: -25°C ~ 85°C Applications: General Purpose Thickness (Max): 0.110" (2.80mm) Part Status: Last Time Buy Capacitance: 22 µF |
на замовлення 2500 шт: термін постачання 21-31 дні (днів) |
|
|||||||||
| C4532JB1E226M250KA | Виробник : TDK Corporation |
Description: CAP CER 22UF 25V JB 1812 Tolerance: ±20% Features: Low ESL Packaging: Cut Tape (CT) Voltage - Rated: 25V Package / Case: 1812 (4532 Metric) Temperature Coefficient: JB Size / Dimension: 0.177" L x 0.126" W (4.50mm x 3.20mm) Mounting Type: Surface Mount, MLCC Operating Temperature: -25°C ~ 85°C Applications: General Purpose Thickness (Max): 0.110" (2.80mm) Part Status: Last Time Buy Capacitance: 22 µF |
на замовлення 2500 шт: термін постачання 21-31 дні (днів) |