74LVTH18512DGGRG4

74LVTH18512DGGRG4 Texas Instruments


sn74lvth18512.pdf Виробник: Texas Instruments
Description: IC SCAN TEST UNIV TXRX 64TSSOP
на замовлення 30000 шт:

термін постачання 21-31 дні (днів)
Відгуки про товар
Написати відгук

Технічний опис 74LVTH18512DGGRG4 Texas Instruments

Scan Test Device -40°C to 85°C 64-Pin TSSOP T/R.

Інші пропозиції 74LVTH18512DGGRG4

Фото Назва Виробник Інформація Доступність
Ціна без ПДВ
74LVTH18512DGGRG4 74LVTH18512DGGRG4 Виробник : Texas Instruments sn74lvth182512.pdf Scan Test Device -40°C to 85°C 64-Pin TSSOP T/R
товар відсутній