Продукція > TEXAS INSTRUMENTS > SN74BCT8373ADWE4 SN74BCT8373ADWE4 Texas Instruments Виробник: Texas Instruments Description: IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC на замовлення 775 шт:термін постачання 21-31 дні (днів) купити Відгуки про товар Написати відгук Технічний опис SN74BCT8373ADWE4 Texas Instruments Description: IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC.